在工業檢測、材料研發、地質分析等對微觀觀察精度要求更高的場景中，臺式掃描電子顯微鏡 ZEM18 憑借升級的光學系統與靈活的適配能力，成為眾多專業用戶的實用工具，既能滿足科研需求，也能適配工業生產中的快速檢測任務。
一、產品細節：兼顧精度與操作便捷性
ZEM18 延續了臺式設計的緊湊優勢，整體尺寸為 680mm×520mm×820mm，重量約 95kg，相較于 ZEM15 略有增加，但仍可放置在普通實驗室操作臺或工業車間的檢測臺上，無需額外改造場地。機身外殼采用改性 ABS 工程塑料，在原有基礎上增加了抗靜電涂層，能有效減少環境中靜電對電子光學系統的干擾，尤其適合電子元件檢測等對靜電敏感的場景。
樣品室進行了針對性優化，采用 304 不銹鋼材質，厚度增加至 2mm，不僅提升了密封性，還能更好地抵御工業環境中的腐蝕性氣體，延長設備使用壽命。樣品室最大可容納直徑 70mm、高度 50mm 的樣品，比 ZEM15 的容納空間更大，可適配更大尺寸的工業零件，如小型機械配件、地質巖芯切片等。樣品臺升級為電動控制，支持 X 軸 ±30mm、Y 軸 ±30mm、Z 軸 60mm 的移動范圍，且移動精度提升，通過操作面板的搖桿即可精準控制，避免手動調節可能出現的偏差。
操作界面升級為 7 英寸電容觸控屏，支持多點觸控，可通過手勢縮放圖像、調整參數，操作流暢度大幅提升。屏幕內置亮度自動調節功能，能根據環境光線強度調整顯示效果，在明亮的車間或昏暗的實驗室中，都能清晰查看圖像與參數。設備接口更加豐富，除 USB3.0 與 HDMI 接口外，新增了以太網接口，支持設備接入局域網，實現多臺設備的集中管理與數據共享，方便團隊協作。
二、產品性能：升級配置提升觀察效果
ZEM18 的電子光學系統采用 LaB?（六硼化鑭）燈絲電子槍，相較于 ZEM15 的鎢燈絲，LaB?燈絲具有更高的亮度與更長的使用壽命，在相同加速電壓下，能生成更細的電子束，提升成像分辨率。加速電壓范圍擴展至 0.5kV～18kV，低電壓段（0.5kV～8kV）的穩定性優化，對導電性差的樣品（如塑料、陶瓷、生物組織）觀察時，充電現象進一步減少，圖像失真率降低；高電壓段（8kV～18kV）則能穿透樣品表面的氧化層，清晰呈現內部結構，適合金屬材料的缺陷檢測。
分辨率方面，ZEM18 在 30kV 加速電壓下可達 2.0nm，1kV 低電壓下可達 6.0nm，比 ZEM15 有明顯提升。例如在觀察半導體芯片的金線鍵合處時，能清晰分辨金線與芯片焊盤的連接細節，甚至可觀察到金線表面的微小劃痕；觀察地質樣品中的礦物顆粒時，能區分不同礦物的晶體形態與邊界。掃描速度新增 “超慢掃" 模式，適合獲取超高清晰度圖像，用于發表科研論文或制作高精度檢測報告；同時保留快掃、中掃模式，滿足工業檢測中的快速篩查需求。
探測器配置上，除二次電子探測器與背散射電子探測器外，ZEM18 可選配能量色散 X 射線譜儀（EDS），實現元素分析功能。搭配 EDS 后，不僅能觀察樣品形貌，還能檢測樣品表面的元素組成與分布，例如在金屬材料檢測中，可快速判斷表面是否存在雜質元素，以及雜質的分布區域，為材料質量控制提供更全面的數據支持。
三、用材與參數：核心部件保障穩定性能
關鍵部件用材上，ZEM18 的電子透鏡采用高純度電工純鐵，經過多道精密磨削與真空退火處理，導磁性能更優，電子束聚焦精度提升，減少電子束在傳輸過程中的發散。樣品臺的導軌采用軸承鋼材質，表面經過鍍鉻處理，硬度達到 HRC60 以上，耐磨性大幅增強，長期頻繁使用后，仍能保持 ±0.005mm 的移動精度，確保樣品定位準確。
以下為 ZEM18 的核心參數表：
四、用途與使用說明：覆蓋科研與工業場景
ZEM18 的用途更為廣泛，在工業檢測領域，可用于汽車零部件的表面缺陷檢測（如發動機零件的磨損痕跡、軸承的表面劃痕）、電子元件的焊接質量檢測（如芯片封裝的引線鍵合缺陷）、塑料產品的注塑缺陷檢測（如表面氣泡、飛邊）；在材料研發領域，能觀察新型復合材料的微觀結構（如纖維增強復合材料的纖維分布、界面結合情況），分析材料性能與微觀結構的關聯；在地質分析領域，可觀察巖石、礦物的顆粒形態與組成，輔助判斷地質成因；在生物醫學領域，對經過冷凍干燥或臨界點干燥的生物樣品（如細菌、細胞、組織）進行高分辨率觀察，助力微觀生物學研究。
使用 ZEM18 時，流程如下：首先接通電源，打開設備總開關，真空系統會自動啟動，標配的分子泵能快速將樣品室真空度提升至 10??Pa 以下，通常只需 5～8 分鐘，比 ZEM15 的抽真空時間縮短；待真空度達標后，通過樣品室門的觀察窗確認樣品臺位置，打開樣品室門，將預處理后的樣品固定在樣品臺上（導電性差的樣品仍需噴金，可選配設備自帶的小型噴金儀），關閉樣品室門，等待真空度再次達標；然后通過觸控屏選擇成像模式（如二次電子成像），設置加速電壓與放大倍率，通過電動搖桿調整樣品臺，將待觀察區域移至電子束掃描中心；最后點擊 “開始掃描"，設備生成圖像后，可通過觸控屏進行亮度、對比度調節，滿意后可通過 USB 接口導出圖像，或通過以太網傳輸至電腦保存。
若選配 EDS 進行元素分析，需在成像界面中點擊 “EDS 分析" 按鈕，選擇分析區域，設備會自動采集 X 射線信號，生成元素譜圖與元素分布熱力圖，分析結果可與形貌圖像一同保存，方便后續數據整理。使用過程中需注意，若樣品含有揮發性成分，需提前進行烘干處理，避免真空系統污染；設備長期不使用時，需每周啟動一次，運行 30 分鐘，保持真空系統的密封性。
五、型號特點：適配檢測需求
作為 ZEM 系列的中端型號，ZEM18 在性能上比 ZEM15 有明顯升級，同時保持了臺式設備的便捷性與經濟性，適合對觀察精度要求較高的高校重點實驗室、中型企業研發中心、第三方檢測機構等。其電動樣品臺與可選配的 EDS 功能，能滿足更多復雜場景的檢測需求，減少人工操作誤差；快速抽真空系統則提升了檢測效率，適合工業生產中的批量樣品檢測。
無論是科研人員進行材料微觀結構研究，還是工業檢測人員把控產品質量，ZEM18 都能提供穩定、清晰的成像效果與全面的數據支持，成為連接科研與工業應用的實用橋梁。
上一個：
返回列表
服務熱線：
公司地址：
公司郵箱：
當前位置：首頁
產品中心
產品簡介
產品分類
相關文章